涂层测厚仪问题分析

更新时间：2023-07-28 点击次数：469

涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。

问题分析：

1、测试数值偏差

新仪器与原来使用的仪器并非同一品牌、同一型号。由于仪器之间的差异性，测试结果就会有所区别。

出现这样的问题原因是涂层测厚仪在测量前校准选用的基点和校准的标准片不一样。为了使得仪器测试数据保持一致，涂层测厚仪应使用同一个校准的零点基体上进行零点校准，同时也要选用同一片标准塑料膜片在同一校准基体上校准。这样测量得到的数据就能较为统一。

2、校准后仪器依旧出现偏差

这样的问题也是比较常见的。一般来说用户都是使用测厚仪随机校准基体进行校准，这样就要求用户自己的产品的基体与随机基体的材料相同，这种情况基本上不可能的。所以，客户应用选择与待测样品基体一致的材料（没有涂层或镀层）上进行零点校准，再在上面用校正块、塑料薄膜进行校准，这次测量数据才能更准确。